ABIRD
バックグラウンドイオンを極減しS/Nを向上させることで、質量分析装置の性能を十分に発揮させることが可能な装置です。
SICRIT
直接イオン源でpptオーダーの高感度分析を実現しました。LCMSに簡単に接続でき、独自の特許技術によりイオン化効率が向上。直接オンラインスクリーニングやSPMEをダイレクトにMSに注入するほか、様々なアプリケーションへの対応が可能です。
DART-SVP
サンプルを前処理することなく、直接イオン化ガスにかざすことにより簡便・迅速にMS測定を行うことができます。