センサー感覚で行える気軽なアンビエントイオン化分析を提案

エーエムアール株式会社は8月29日から31日まで名城大学天白キャンパスにて開催される「日本食品科学工学会　第71回大会」にて
企業展示およびランチョンセミナーにて出展いたします。
本学会では当社でお取り扱いしておりますアンビエントイオン源「DCDI」、「DART」、「SICRIT」、を中心に紹介予定です。

8月30日のランチョンセミナーではヱスビー食品株式会社の佐川様をお招きし、「質量分析装置をセンサーの感覚で使ってみませんか」というテーマでご講演いただく予定です。
学会へご参加の際はぜひ弊社展示ブースおよびランチョンセミナーへお立ち寄りください。

日本食品科学工学会 第71回大会　概要

会期：8月29日（木）〜 31日（土）
会場：名城大学天白キャンパス（〒468-0073 愛知県名古屋市天白区塩釜口１丁目５０１）

【企業展示（ブース番号：20）】

アンビエントイオン源「DCDI」
公立大学法人横浜市立大学 関本 先生およびエーエムアールが共同開発したイオン化法（特開2017-045571）を利用したイオン源です。DCDIでは暗流放電とアルゴンガスを用いてイオン化を行います。固・液・気体サンプルをかざすだけで測定ができ、また従来のアンビエントイオン源と比較して低コストで導入いただけます。

アンビエントイオン源「DART」
サンプルを前処理することなく、直接イオン化ガスにかざすことにより簡便・迅速にMS測定を行うことができます。固体・液体・気体サンプルを広い極性範囲でイオン化・分析が可能です。

アンビエントイオン源「SICRIT」
揮発性成分の高感度分析に特化したLCMS用イオン源です。MS取り込み口に直接接続されたイオン源からサンプルを取り込みながらイオン化する独自機構により効率的なイオン化を行います。発生ガスのリアルタイム分析や呼気分析、レトロネーザルアロマなどの直接分析のほか、LC、GC、SFCのAPCIイオン源としての運用も可能です。

その他展示予定
サンプル前処理自動化システム「PAL RTC」
卓上型粉体自動秤量分注システム「CRYSTAL」
研究開発自動化システム「CHEMSPEED」ほか

ランチョンセミナー

【日程：8月30日（金）12:00～12:50】
【会場：LS1会場（名城大学 共通講義棟北 1階 N107）】

講演：質量分析装置をセンサーの感覚で使ってみませんか

講演者：ヱスビー食品株式会社　佐川 岳人 様
概要：質量分析装置は、LC-MSやGC-MSによる成分分析の印象から、「気軽に利用」とは考えにくいかもしれません。しかしながら、LCはGCなどの分離分析を伴わないアンビエントイオン化分析の場合には、通常のLC-MSに専用のイオン源を装着するだけで、センサーのような感覚で利用することも可能です。また、サンプル取り込み部分が開放系になっているため、ちょっとした工夫を施すことで、測定サンプルに最適な条件で再現性の高い分析結果を得ることもできます。ここでは、いくつかのサンプルを例にして、分析方法からデータ処理までの考え方について、ご紹介させていただきます。

ご案内は以上となります。
皆様のご参加を心よりお待ち申し上げます。